LFA測試金屬膜

金屬膜在電子領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用，比如電子產(chǎn)品的電觸點、大功率電子器件的散熱器。為此高導熱和低熱膨脹的熱物性能就顯得十分必要。金屬材料的導熱系數(shù)一般采用激光閃射法（LFA）測量。但是對于金屬薄膜而言，傳統(tǒng)的 LFA 方法并不合適，因為樣品厚度太薄。使用特殊In-Plane水平導熱支架則不會有樣品厚度的限制。利用LFA特殊In-Plane水平模式支架可以測得金屬膜水平方向的熱擴散系數(shù)。由于金屬薄膜的導熱行為基本上可以看做是各向同性，因此也可以得到金屬膜厚度方向的導熱。

測試條件

溫度范圍：RT…300°C                                

樣品厚度：0.017/0.123 mm

樣品支架：In-plane水平支架                 

樣品表面噴涂：石墨

測試結(jié)果

隨著溫度升高，金屬膜的熱擴散系數(shù)逐漸降低。為了檢查In-Plane支架測試結(jié)果的準確性，我們使用Laminate層壓支架來進行驗證試驗（金屬膜被切成片狀，旋轉(zhuǎn)90°，厚度為2mm），結(jié)果偏差小于3%。說明此附件能夠準確地檢測高導熱且厚度僅為幾十微米的金屬膜材料。

編譯：

朱明峰

曾智強